Fail:Silicon dislocation orientation 111 mag 500x.png
Silicon_dislocation_orientation_111_mag_500x.png (768 × 576 pikslit, faili suurus: 650 KB, MIME tüüp: image/png)
Faili ajalugu
Klõpsa kuupäeva ja kellaaega, et näha sel ajahetkel kasutusel olnud failiversiooni.
Kuupäev/kellaaeg | Pisipilt | Mõõtmed | Kasutaja | Kommentaar | |
---|---|---|---|---|---|
viimane | 13. september 2005, kell 02:15 | 768 × 576 (650 KB) | Twisp | * Title: Dislocations in Si crystal, orientation 111 * Desc: Image of dislocations in Si crystal made using interference microscope with 500x magnification. Crystal orientation can be determined by the triangular (pyramidal) shape of dislocations. * Autho |
Faili kasutus
Seda faili kasutab järgmine lehekülg:
Globaalne failikasutus
Järgmised muud vikid kasutavad seda faili:
- Faili kasutus vikis de.wikibooks.org
- Faili kasutus vikis en.wikipedia.org
- Faili kasutus vikis fa.wikipedia.org
- Faili kasutus vikis fr.wikipedia.org
- Faili kasutus vikis hu.wikipedia.org
- Faili kasutus vikis ja.wikibooks.org
- Faili kasutus vikis zh.wikipedia.org