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Ficheiro:Amostra Van der Pauw.svg

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Descrição do ficheiro

Descrição
English: Method to measure eletric resistivity in semiconductors materials - van der Pauw. Four-point probe technique
Português: Método para medida de resistividade elétrica em materiais semicondutores - van der Pauw. Esquemático para medições de quatro pontas.
Data 08 / 05/ 2015
Origem L. J. van der Pauw. A Method of measuring specific resistivity and Hall Effect of discs of arbitrary shape. Philips Res Repts, Vol 13, 1-9, February 1958
Autor Creator:Andersonbordin
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tamanho dos dados

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altura

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atual19h22min de 8 de maio de 2015Miniatura da versão das 19h22min de 8 de maio de 2015744 × 1 052 (11 kB)Andersonbordin{{Information |Description ={{en|1=Method to measure eletric resistivity in semiconductors materials - van der Pauw. Four-point probe technique}} {{pt|1=Método para medida de resistividade elétrica em materiais semicondutores - van der Pauw. Esque...

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